低频噪声测试系统
晶圆级噪声测试精度和高测试带宽,最低测试噪声的电流精度低至10-27A2/Hz。
典型噪声测试速率提高至一个偏置条件仅需20s、最高测试电压提高到200V。
通过并行测试架构解决方案以及协同FS-Pro半导体参数测试系统等方式大幅度提高测试效率和吞吐量。
用于28/14/10/7/5/3nm等各工艺节点的先进工艺研发和高端集成电路设计。
内置功效强盛的NoiseProPlus软件,支持1/f噪声、RTN噪声测试和数据剖析。
全球半导体行业
低频噪声测试“黄金尺度”系统
已被众多行业领先半导体公司所接纳的
尺度测试系统
经头部客户验证的
高精度、高测试吞吐率并行测试能力
晶圆级高精度和测试带宽
宽电压、宽电流、宽阻抗丈量规模
系统系统架构经行业认可并一直完善
兼具高精度和可靠性
同时笼罩从10Ω到10MΩ的
高阻抗器件和低阻抗器件测试能力
先进工艺质量/工艺
评估和品质监控
低频噪声特征测试
和噪声数据剖析
半导体器件
SPICE模子库开发
高端集成电路
设计和验证