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半导体低频测试
周全笼罩

通过领先的半导体特征测试仪器产物与EDA产物形成软硬件协同，提供差异化和更高价值的数据驱动的EDA全流程解决方案

参数化测试

半导体参数化测试（Parametric Test）系统主要用于半导体器件的参数丈量和监测，是协助芯片制造和设计优化的主要工具。芯片制造厂通过参数化测试评估和优化制造工艺，提高半导体器件性能，确保产物的稳固性和可靠性。对于芯片设计来说，参数化测试可以协助设计师相识和验证半导体器件的参数规模和特征，可以评估种种设计选择的优弱点，并优化电路设计以到达最佳性能。

新葡的京集团3512vip半导体参数剖析仪FS-Pro是一款功效周全、设置无邪的半导体器件电学特征剖析测试系统，能够快速、准确地完成险些所有半导体器件的低频特征表征，普遍应用于种种半导体器件、LED质料、二维质料器件、金属质料、新型先进质料与器件测试、器件可靠性等研究领域，极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估历程。

新葡的京集团3512vipFS-MEMS是一款集成传感器结构参数测试功效的系统，通过一键操作即可完成动态和静态参数测试。该系统周全笼罩电流电压（IV）、电容电压（CV）、泄电、电阻、谐振频率、Q 值、正交系数、-3dB 带宽等要害电学参数，实现自动测试；同时支持多通道并行测试，可显著提高测试效率，适用于角速率计（陀螺仪）、加速率计、压力传感器、光流量计、红外传感器等基于MEMS传感器特征参数测试。

FS800 器件参数剖析仪是新葡的京集团3512vip电子的新一代半导体器件电学特征剖析装备，接纳自主研发的模块化架构和数据总线，具有功效周全设置无邪等特点，在一台装备中实现了电流电压（IV）测试、电容电压（CV）测试、快速波形发生与测试、低频噪声测试以及高速时域信号收罗，仪器内置的LabExpress 测试软件配备富厚的内置测试算法库，支持扩展测试功效和定制测试流程，可普遍应用于新质料和新器件研究、电性参数测试、器件模子数据测试、可靠性测试等领域。

噪声测试

低频噪声测试用于丈量器件在低频区域的1/f噪声和RTN噪声性能，是半导体器件制造和芯片设计中一种主要的剖析手段，能够资助芯片制造和设计者提高产物质量和市场竞争力。芯片制造厂可通过低频噪声测试监测和优化制造工艺，提高器件性能和稳固性；芯片设计公司可通过评估和验证器件的噪声特征，优化电路设计以提高电路性能和可靠性。

新葡的京集团3512vip981X系列低频噪声测试系统是低频噪声测试领域的黄金尺度工具，适用于从成熟工艺到28/14/10/5/3nm等各工艺节点的先进工艺研发、IC设计和学术研究中。业界首款商用级交流噪声测试系统9812AC为探索半导体研究新领域提供了更多的可能。

综合量测

半导体自动量测系统是专门用于半导体器件性能评估和参数丈量的系统，通常由参数剖析仪、噪声测试系统和探针台等硬件装备、丈量控制软件以及矩阵开关等自动化机制组成。该系统能够自动执行多种电性测试，包罗电流电压（IV）特征、电容电压（CV）特征、脉冲测试、噪声测试以及可靠性测试等，能够提高测试效率、准确性和可靠性，在半导体器件的设计、生产和品质控制中起着至关主要的作用。

新葡的京集团3512vip晶圆级全自动量测解决方案ATS是基于FS-Pro半导体参数剖析仪和自研硬件装备及丈量控制软件开发的一套全自动电性量测解决方案。该方案可凭证使用需求无邪集成多种软硬件，普遍应用于电流电压（IV）、电容电压（CV）、脉冲式IV、高速时域信号收罗、低频噪声测试以及多种可靠性测试。

LabExpress电性参数测试软件是针对半导体器件研发与生产情形中的电性参数测试应用而设计的一款专业EDA工具，通过用户友好的图形界面支持了普遍的测试装备，具备强盛的测试剖析和无邪的自界说能力。您可以使用预置模板快速完成测试，也可以为重大的实验编写自界说测试算法和流程，软件面向自动量测场景举行了深度优化，支持晶圆映射和海量数据治理，可应用于众多专业化测试领域，提升自动化测试剖析的效率和使用体验。